Le microscope métallographique numérique interférentiel différentiel BMM - 100 de type DIC est un instrument optique très rentable pour la détection. L'utilisation d'un excellent système d'imagerie optique à distance infinie avec un illuminateur LED haute luminosité intégré introduit une fonction d'observation microscopique par interférence différentielle. Tête d'observation photographique binoculaire, qui incarne la réduction réaliste de l'observation visuelle, ainsi que la fusion technologique de la photographie numérique avec la microimagerie, l'image interférentielle observée a un sens stéréoscopique plus fort, adapté à l'observation de la morphologie de surface de matériaux non transparents, tels que la micromorphologie des particules conductrices de l'écran à cristaux liquides. C'est l'instrument idéal pour la détection de la qualité, la recherche structurelle dans le domaine de la fabrication.
Caractéristiques de performance
★ le produit adopte le système d'imagerie optique à distance infinie, peut choisir 5X, 10x, 20x égale distance de travail plat achromatique objectif sans contrainte, correspondant à l'interférence différentielle correspondante (DIC plug - in) pour l'observation microscopique de différents grossissements;
★ le système d'éclairage utilise des dispositifs LED à haute luminosité et à long temps de travail, avec des caractéristiques telles que la structure compacte et la facilité d'utilisation, particulièrement adaptées aux exigences environnementales de la détection en ligne;
★ en utilisant le style de réglage de la hauteur de colonne, observez la gamme d'épaisseur de l'échantillon est plus grande.

Configuration standard